本書系統(tǒng)地介紹作者獨創(chuàng)的短波長特征X射線衍射基本原理和無損檢測晶體內(nèi)部衍射信息等主要應用，除緒論外，主要包括三部分，共11章。在第一部分(共2章)X射線衍射基礎中，概述X射線物理學基礎、晶體的X射線衍射基礎等；在第二部分(共3章)短波長特征X射線衍射基礎、儀器及實驗技術中，詳述短波長特征X射線衍射原理、織構/取向材料的

結構與性能之間的關系是材料科學與工程領域的關鍵話題之一。要理解為什么一種材料能夠展現(xiàn)出某種性能，首先是分析其晶體結構，揭示其結構特征。本書為讀者深入解釋了如何借助X射線衍射和透射電子顯微鏡進行晶體結構分析。本書主要內(nèi)容如下：晶體學基礎；材料的X射線衍射，包括幾何原理、X射線衍射強度以及實驗方法；材料的透射電子顯微技術，

《X射線多晶衍射數(shù)據(jù)Rietveld精修及GSAS軟件入門》一書自2016年出版至今已有七年，迄今已重印4次。目前，書中的部分網(wǎng)站鏈接失效，部分引用數(shù)據(jù)已更新。另外，也有讀者建議增加其他的操作內(nèi)容，以豐富圖書的內(nèi)容。修訂時，主要更新了一些網(wǎng)站鏈接以及部分引用數(shù)據(jù)，同時明確了軟件和教程下載二維碼的所在頁數(shù)。增加了采用GS

《材料X射線衍射基礎與實踐》根據(jù)“教育部高等學校材料類專業(yè)教學指導委員會規(guī)劃教材”建設項目的要求，博采同類教材眾長并結合編者多年教學和科研心得，從學生學習角度整合教材內(nèi)容，教材深挖教學重點、剖析難點，不僅著眼于學生基礎知識結構的構建，更注重學生思考能力的培養(yǎng)。本書內(nèi)容的安排如下：第1章緒論，闡述該課程在材料科學與工程專

本書為工業(yè)和信息化部“十四五”規(guī)劃教材，主要介紹晶體學基礎與X射線在材料結構、形貌和成分方面的分析技術。其中，結構分析技術包括X射線的物理基礎、衍射原理、物相分析、織構分析、小角散射與掠入射衍射分析、位錯分析、層錯分析、非晶分析、單晶體衍射與取向分析、內(nèi)應力分析、點陣常數(shù)的測量與熱處理分析等；形貌分析技術即三維X射線顯

本書系統(tǒng)講解了晶體學基礎知識、X射線衍射基本理論以及X射線衍射在晶體材料取向分析、應力分析、物相分析、織構分析等方面的應用。全書通過詳細的圖解對抽象的理論知識、重點和難點進行了詳細講解；對當代各種新技術、新方法做出了富有前瞻性的分析和介紹，力求幫助讀者能夠輕松愉快的學習。

本書全面介紹了各種現(xiàn)代衍射方法，注重實踐案例，特別是在原位測量方面，旨在使讀者深入了解現(xiàn)代衍射技術的廣泛應用，尤其是與當今材料科學的密切結合，在科學研究中發(fā)揮著日益強大的作用�！禕R》全書共分四部分，第一部分是衍射揭示晶體結構信息，包括單晶結構解析（第1章）、粉末衍射全譜精修（第2章）和非晶、無序晶體、納米晶的全散射分

隨著計算機科學的飛速發(fā)展，計算機模擬手段已在物理學的研究中發(fā)揮著重要作用。近年來，作為探索新材料的有效途徑，晶體結構預測方法日益受到廣泛關注。本書以作者多年的研究成果為基礎，結合國內(nèi)外**研究進展，梳理和總結了晶體結構預測方法在新型功能材料設計領域及地球物理領域的研究現(xiàn)狀和應用。本書主要介紹了晶體結構預測方法及其在超硬

本書內(nèi)容分為四部分：（1）數(shù)據(jù)測量方法。介紹粉末X射線衍射實驗設備、樣品制備方法與技巧；（2）數(shù)據(jù)處理軟件操作：講解X射線衍射實驗數(shù)據(jù)處理軟件Jade的基本操作方法；（3）X射線衍射傳統(tǒng)分析方法：物相定性分析、定量分析、結晶度、點陣常數(shù)精確測量、晶粒尺寸與微觀應變、殘余應力計算；（4）Rietveld全譜擬合精修方法：

《Olex2軟件單晶結構解析及晶體可視化》介紹單晶解析基礎理論，應用圖形界面化程序Olex2為平臺，解析單晶結構。運用包括最通用和經(jīng)典的DirectMethods，PattersonMethod兩種算法，以及新發(fā)展的ChargeFlipping，IntrinsicPhasing，StructureExpansion和D