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本書是基于UVM驗證方法學(xué)的針對芯片驗證實際工程場景的技術(shù)專題工具書，包括對多種實際問題場景下的解決專題，推薦作為UVM的進階教材進行學(xué)習(xí)。不同于帶領(lǐng)讀者學(xué)習(xí)UVM的基礎(chǔ)用法，本書分為多個專題，每個專題專注解決一種芯片驗證場景下的工程問題，相關(guān)技術(shù)工程師可以快速參考并復(fù)現(xiàn)解決思路和步驟，實用性強。本書詳細描述了每個專題

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本書以Altium公司開發(fā)的AltiumDesigner22版本為平臺，通過應(yīng)用實例，按照實際的設(shè)計步驟講解AltiumDesigner的使用方法，詳細介紹了AltiumDesigner的操作步驟。本書內(nèi)容包括AltiumDesigner簡介、元件庫的設(shè)計、繪制電路原理圖、電路原理圖繪制的優(yōu)化方法、PCB設(shè)計預(yù)備知識、

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本書系統(tǒng)介紹了數(shù)字集成電路的設(shè)計思想、原理、方法和技術(shù)，主要內(nèi)容包括數(shù)字集成電路設(shè)計流程、Verilog硬件描述語言、基于VerilogHDL的邏輯設(shè)計方法、數(shù)字集成電路設(shè)計的驗證方法、EDA工具的原理及使用方法、基于FPGA的集成電路設(shè)計方法、低功耗設(shè)計技術(shù)、可測性設(shè)計方法、SoC設(shè)計方法以及多個復(fù)雜度較高的設(shè)計實例

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試驗設(shè)計方法是可實現(xiàn)經(jīng)濟地、科學(xué)地安排試驗的一項通用技術(shù)，是當(dāng)代科技和工程技術(shù)人員必須掌握的技術(shù)方法。本書從試驗設(shè)計的理論知識、設(shè)計過程、分析軟件使用等多方面系統(tǒng)地闡述試驗設(shè)計在印制電路制造中的應(yīng)用。本書共6章，第1章介紹正交試驗設(shè)計在印制電路等離子清洗優(yōu)化的應(yīng)用；第2章介紹正交試驗方差分析法在印制電路激光切割優(yōu)化的應(yīng)