本書共分3部分。第1部分介紹石墨烯的制備,分別討論了石墨烯在碳化硅中的 外延生長、石墨烯薄膜增長的化學(xué)氣相沉積法、化學(xué)法制備石墨烯和電化學(xué)剝離制備 石墨烯;第2部分是石墨烯的表征,分別介紹用透射電子顯微鏡法對石墨烯原子結(jié)構(gòu) 的硏究、石墨烯的掃描隧道顯微鏡分析、石墨烯的拉曼光譜硏究以及低維碳材料的光 電子能譜分析
本書以粉體微納化技術(shù)以及相關(guān)設(shè)備使用為主線,詳細介紹了微納材料的性能與特性、微納材料的表征與測試技術(shù)、微納化工藝設(shè)計以及相關(guān)設(shè)備的選擇,并給出了粉體設(shè)備的仿真設(shè)計計算案例。本書適合材料和機械相關(guān)領(lǐng)域的技術(shù)人員參考。
本書介紹了利用多金屬氧酸鹽做為還原劑、配位劑/包覆劑以及穩(wěn)定劑合成貴金屬納米粒子的方法,包括Au/Ag/Pd/Pt@POM四類納米粒子的具體合成方法,同時還介紹了它們在相關(guān)領(lǐng)域的卓越性質(zhì)。對多金屬氧酸鹽修飾的貴金屬納米材料的合成及性質(zhì)研究領(lǐng)域具有指導(dǎo)意義。
本書為“低維材料與器件叢書”之一。由于低維材料尺寸較小,其通常具有較高比表面積和活性,這使得大量、穩(wěn)定地制備低維材料需要用到一些特殊的方法。此外,低維材料的性能與其形貌、物相、成分及元素分布等關(guān)系密切,因此還需要考慮制備過程及產(chǎn)物的可控性。以低維材料的實際應(yīng)用為導(dǎo)向,本書系統(tǒng)介紹了通過物理、化學(xué)方法制備低維材料的策略。
本書研究了活性中心摻雜多孔材料的發(fā)光特性。第一部分研究鉍摻雜的氧化多孔硅薄膜的發(fā)光特性。另一方面,研究了不同退火溫度和不同氣氛下?lián)诫sBi的多孔二氧化硅薄膜的PL特性,發(fā)現(xiàn)近紅外線發(fā)光強烈地依賴于退貨氣氛和溫度。第二部分研究了沸石中銀團簇/離子對稀土離子的光敏化作用。通過在沸石籠中同時摻雜銪和銀,實現(xiàn)了銀團簇/離子對三價
二維原子晶體材料如石墨烯、二硫化鉬、二硫化鎢、黑磷和硼單層是近年來學(xué)術(shù)界最熱門的研究領(lǐng)域之一,對二維材料的物性研究、新工藝/新方法探索以及對其構(gòu)筑微納器件的全面發(fā)展,將對科學(xué)技術(shù)和社會發(fā)展產(chǎn)生深遠影響。《二維原子晶體材料和器件》以南京航空航天大學(xué)機械結(jié)構(gòu)力學(xué)及控制國家重點實驗室研究團隊多年的研究成果為基礎(chǔ),匯集了國內(nèi)外
本書主要從埃洛石的結(jié)構(gòu)性質(zhì)出發(fā),詳細介紹了其表面改性方法、埃洛石水凝膠、聚合物納米復(fù)合膜、聚合物納米復(fù)合塊體材料、聚合物納米復(fù)合纖維,并指出了其在光電催化、生物醫(yī)用和環(huán)境保護等方面的應(yīng)用方向。本書的目的在于總結(jié)現(xiàn)有的埃洛石的研究工作,激發(fā)埃洛石的進一步研究的熱情,碰撞出新的交叉性創(chuàng)新思維,全面推廣埃洛石這種新型材料的實
《圖解粉體和納米材料》是“名師講科技前沿系列”中的一本,內(nèi)容包括粉體及其性質(zhì)、粉體參數(shù)如何測量、粉體的制備與操作、粉體的應(yīng)用、納米材料和納米技術(shù)、碳納米管和石墨烯、納米材料的應(yīng)用7章。針對入門者、應(yīng)用者、研究開發(fā)者、決策者等多方面的需求,本書采用每章之下“節(jié)節(jié)清”的論述方式,圖文對照,并給出“本節(jié)重點”。力求做到深入淺
本書根據(jù)作者多年的石墨烯薄膜制備經(jīng)驗和研究成果,并結(jié)合國內(nèi)外石墨烯薄膜制備的最新研究進展編撰而成。本書主要介紹基于化學(xué)氣相沉積法的石墨烯薄膜制備技術(shù),首先對石墨烯概念、發(fā)展歷程和表征進行概括介紹,接著簡單介紹化學(xué)氣相沉積技術(shù),然后系統(tǒng)介紹石墨烯的成核與生長、單晶石墨烯的制備、石墨烯的層數(shù)控制,進一步介紹石墨烯薄膜的轉(zhuǎn)移
本書是主要介紹利用X射線等激發(fā)樣品從而表征材料結(jié)構(gòu),特別是納米材料晶體結(jié)構(gòu)相關(guān)信息的專著。考慮到納米材料的特殊性,本書分為三個部分:晶體學(xué)基礎(chǔ)、X射線衍射理論基礎(chǔ)、X射線實驗裝置和方法等四章為基礎(chǔ)部分;中間部分是X射線衍射分析方法和應(yīng)用,包括物相定性和定量、晶體學(xué)參數(shù)測定、納米材料微結(jié)構(gòu)的衍射線形分析、Rietveld