本書詳細(xì)介紹了電子元件及其集成電路的測試開發(fā)流程，全書包括測試開發(fā)流程、電阻的測試、二極管的測試、三極管的測試、MOSFET的測試、組合邏輯芯片測試開發(fā)、時序邏輯芯片測試開發(fā)、運(yùn)算放大器的測試開發(fā)、電源管理芯片測試開發(fā)九個項目。大部分項目包含“知識準(zhǔn)備”“項目實施”和“技能訓(xùn)練”三個部分，確保讀者能夠系統(tǒng)地學(xué)習(xí)每種電子

本書結(jié)合編者多年的數(shù)字芯片后端設(shè)計經(jīng)驗編寫，輔以多個項目實踐，以幫助讀者提升實操能力。本書主要介紹數(shù)字芯片后端設(shè)計相關(guān)知識及相關(guān)工具的使用。全書共11個模塊，其中模塊一為數(shù)字芯片后端設(shè)計基礎(chǔ)；模塊二-模塊十以實際的數(shù)字芯片后端設(shè)計流程為主線，介紹數(shù)字芯片后端設(shè)計的相關(guān)內(nèi)容，包括邏輯綜合、形式驗證、可測試性設(shè)計、布局布線

本書系統(tǒng)介紹了數(shù)字集成電路設(shè)計的FPGA的開發(fā)應(yīng)用知識。包括集成電路概述、可編程器件的基本知識、Verilog和VHDL語言，Intel旗下的QuartusPrime、AMD旗下的Xilinx公司Vivado、Vitis和Mentor公司的Modelsim、國產(chǎn)青島若貝Robie軟件的使用方法，以及基于FPGA的電路設(shè)

本書按一個完整的半導(dǎo)體集成電路工藝過程工藝作用來講述，將各種集成電路單項工藝分為清洗、薄膜沉積、摻雜和圖形轉(zhuǎn)移等幾類。各部分內(nèi)容是以提取重要的、有重復(fù)性和代表性的工序排成的實驗項目。學(xué)生真正掌握了這些實驗的方法，熟悉各大型設(shè)備的實際操作，即可在工藝線上單獨(dú)流片，制造出合格的、結(jié)構(gòu)較簡單的集成電路芯片。

本書介紹了芯片的知識，共7章。第1章介紹了與芯片發(fā)明相關(guān)的重要技術(shù)；第2章帶領(lǐng)讀者走進(jìn)芯片的微觀世界，了解芯片復(fù)雜和神奇的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，以及芯片的設(shè)計和芯片制造技術(shù)；第3章講解了芯片的設(shè)計過程；第4章介紹了芯片制造的主要工藝、設(shè)備和材料；第5章介紹了目前流行的先進(jìn)封裝形式和芯片測試的方法等；第6章介紹了芯片的各種應(yīng)用；第7

本書主要內(nèi)容包括基于四軸飛行器核心板的電路設(shè)計與制作流程、飛行器主板介紹、原理圖設(shè)計及PCB設(shè)計、創(chuàng)建元件庫、導(dǎo)出生產(chǎn)文件以及制作電路板、焊接電路板、立創(chuàng)EDA專業(yè)版介紹等。

本書著重介紹深度學(xué)習(xí)加速芯片、類腦芯片這兩種當(dāng)前主流AI芯片的最新進(jìn)展，AI芯片面臨的新需求和可持續(xù)發(fā)展路線，AI芯片用到和推動的最前沿半導(dǎo)體技術(shù)，新的AI芯片算法和AI芯片架構(gòu)，AI芯片在6G、自動駕駛、量子計算、腦機(jī)接口、人類增強(qiáng)等前沿領(lǐng)域能夠起到的作用，AI芯片可能在科學(xué)發(fā)現(xiàn)方面起到的重要作用，以及AI芯片面臨的

本書從集成電路理論技術(shù)發(fā)展和工程建設(shè)實際應(yīng)用兩大方面，對集成電路工程技術(shù)設(shè)計進(jìn)行了系統(tǒng)性的全面講解。技術(shù)理論部分從經(jīng)典科學(xué)理論出發(fā)，以時間軸為線索，系統(tǒng)講解了集成電路技術(shù)的發(fā)展以及目前的技術(shù)現(xiàn)狀。而工程應(yīng)用部分，則對行業(yè)現(xiàn)狀、工程建設(shè)的流程進(jìn)行了分專業(yè)分系統(tǒng)的形象化闡述。全書交叉比對國內(nèi)外產(chǎn)業(yè)發(fā)展先進(jìn)地區(qū)和企業(yè)，歸納總

本書從微電子技術(shù)的發(fā)展歷程和發(fā)展特點(diǎn)入手，以航空、航天、航海三大領(lǐng)域為應(yīng)用背景，系統(tǒng)地介紹了微電子的基本概念與關(guān)鍵技術(shù)，內(nèi)容涵蓋了微電子技術(shù)的發(fā)展歷史、集成材料器件等物理基礎(chǔ)、集成電路設(shè)計方法、測試與封裝等多個方面。

本書從信息安全的基礎(chǔ)概念講起，逐步深入密碼學(xué)的基礎(chǔ)知識、密碼算法的分類與應(yīng)用，以及密碼芯片的設(shè)計原理和實現(xiàn)方法。全書共8章，內(nèi)容涵蓋了信息安全的發(fā)展現(xiàn)狀與發(fā)展歷史、密碼學(xué)概述、對稱與非對稱加密算法、密碼芯片的設(shè)計與優(yōu)化、密碼芯片的檢測認(rèn)證與量化評估、側(cè)信道攻擊與防御策略，以及密碼芯片的研究熱點(diǎn)及未來發(fā)展趨勢等。本書不僅