本書(shū)內(nèi)容包括：紅外成像系統(tǒng)的基本概念、工作原理、通用測(cè)試技術(shù)、專項(xiàng)測(cè)試技術(shù)、自動(dòng)測(cè)試技術(shù)以及測(cè)試結(jié)果的不確定性分析等。其中專項(xiàng)測(cè)試技術(shù)包括聚焦和系統(tǒng)分辨率、系統(tǒng)響應(yīng)率、信號(hào)傳遞函數(shù)、系統(tǒng)噪聲、三維噪聲模型、NETD、對(duì)比度傳遞函數(shù)、調(diào)制傳遞函數(shù)、幾何傳遞函數(shù)、MRTD和MTD等的理論基礎(chǔ)、測(cè)試原理和測(cè)試方法等。

本書(shū)內(nèi)容包括：GaN量子阱的基本性質(zhì)、GaN量子阱中的電子態(tài)、GaN量子阱中的類氫雜質(zhì)態(tài)、GaN量子阱中的激子態(tài)、GaN量子阱中的電子子帶躍遷等。