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技術溢出的機制、測度與我國創(chuàng)新模式優(yōu)化策略
定 價:68 元
叢書名:國家自然科學基金面上項目“技術溢出效應的多維測度與我國創(chuàng)新模式的優(yōu)化策略”資助
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作者:魏守華 等
出版時間:2018/6/1
ISBN:9787514191820
出 版 社:經濟科學出版社
中圖法分類:
F124.3
頁碼:
紙張:
版次:
開本:
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內容簡介
作者介紹
本書介紹了技術溢出的基本概念與技術擴散等概念,分析了它們的異同點;分析了技術溢出的研究背景,包括經濟全球化與技術溢出、產業(yè)地方化集聚中的技術溢出等;綜述了技術溢出的研究視角,如產業(yè)間的技術溢出、區(qū)域間的技術溢出、產學研合作中的技術溢出等。
魏守華,男,安徽巢湖人。2003年7月獲北京大學博士學位,2007年7月進入南京大學商學院。研究方向 1.產業(yè)集群 2.區(qū)域科技發(fā)展 教學方向 1.城市經濟學 2.創(chuàng)新與經濟增長
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