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電阻抗斷層成像技術(shù)——方法、歷史和應(yīng)用(第2版)

 電阻抗斷層成像技術(shù)——方法、歷史和應(yīng)用(第2版)

定  價:200 元

        

  • 作者:安迪·阿德勒,大衛(wèi)·霍爾德
  • 出版時間:2024/10/1
  • ISBN:9787567924680
  • 出 版 社:中國協(xié)和醫(yī)科大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:R445 
  • 頁碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:
  • 開本:16開
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本書內(nèi)容豐富,涵蓋了EIT技術(shù)的各個方面。首先,回顧EIT的歷史,了解EIT的起源和發(fā)展脈絡(luò),以及發(fā)展過程中的重大突破和里程碑事件。接著從EIT的基本原理出發(fā),深入剖析了其數(shù)學(xué)基礎(chǔ)和物理機制;進(jìn)而詳細(xì)介紹了EIT系統(tǒng)的硬件設(shè)計和軟件設(shè)施,包括數(shù)據(jù)采集、圖像重建等關(guān)鍵技術(shù);最后,重點關(guān)注了EIT技術(shù)在醫(yī)學(xué)、工業(yè)檢測等領(lǐng)域的應(yīng)用,展示了其巨大的應(yīng)用潛力和價值。通過本書,將了解EIT在各種醫(yī)學(xué)場景中的潛在應(yīng)用,以及其在臨床診斷、疾病監(jiān)測和治療過程中的價值。本書的出版能夠推動EIT技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用,為相關(guān)領(lǐng)域的科研和實踐工作提供有益的參考和借鑒。

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