數(shù)字集成電路測試及可測性設(shè)計(jì)
定 價(jià)：79 元
叢書名：集成電路設(shè)計(jì)與集成系統(tǒng)
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- 作者：張曉旭，張永鋒，山丹編著
- 出版時(shí)間：2024/9/1
- ISBN：9787122465535
- 出 版 社：化學(xué)工業(yè)出版社
- 中圖法分類：TN431.207
- 頁碼：319頁
- 紙張：
- 版次：1
- 開本：26cm
本書從數(shù)字集成電路測試與可測性設(shè)計(jì)的基本概念出發(fā)，系統(tǒng)介紹了數(shù)字集成電路測試的概念、原理及方法。主要內(nèi)容包括：數(shù)字集成電路測試基礎(chǔ)、測試向量生成、可測性設(shè)計(jì)與掃描測試、邊界掃描測試、內(nèi)建自測試、存儲(chǔ)器測試，以及可測性設(shè)計(jì)案例及分析。本書將理論與實(shí)踐相融合，深入淺出地進(jìn)行理論講解，并輔以實(shí)例解析，幫助讀者從入門級(jí)別的理解到信手拈來的精通，實(shí)現(xiàn)從理論知識(shí)到工程應(yīng)用的有效過渡。本書可作為高等院校集成電路設(shè)計(jì)與集成系統(tǒng)等專業(yè)的教材，也可供集成電路行業(yè)的工程技術(shù)人員參考。
張曉旭，大連東軟信息學(xué)院教師。曾任職于松下電器軟件開發(fā)（大連）有限公司，擔(dān)任半導(dǎo)體開發(fā)部門工程師，主要負(fù)責(zé)集成電路設(shè)計(jì)、驗(yàn)證、測試等工作。2016年9月至今，任職于大連東軟信息學(xué)院，擔(dān)任集成電路設(shè)計(jì)與集成系統(tǒng)專業(yè)教師。參與省級(jí)縱向項(xiàng)目2項(xiàng)，市級(jí)縱向項(xiàng)目1項(xiàng)。參與橫向項(xiàng)目10項(xiàng)。參與發(fā)明專利1項(xiàng)，實(shí)用新型專利1項(xiàng)。指導(dǎo)學(xué)生參與專業(yè)競賽，多次獲得省三以上獎(jiǎng)勵(lì)，獲全國大學(xué)生集成電路創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)大賽一等獎(jiǎng)。
第1章 緒論 001
1.1 電路測試的意義 001
1.2 電路測試的分類及基本方法 005
1.2.1 電路測試分類 005
1.2.2 電路測試基本方法 007
1.3 自動(dòng)測試設(shè)備 009
習(xí)題 010
第2章 數(shù)字集成電路測試基礎(chǔ) 011
2.1 缺陷、錯(cuò)誤和故障 011
2.1.1 缺陷、錯(cuò)誤 011
2.1.2 故障 012
2.1.3 常用故障模型 013
2.1.4 單固定故障 014
2.2 單固定故障精簡 018
2.2.1 故障等效 018
2.2.2 故障支配 020
2.2.3 最小故障集精簡 021
2.2.4 測試向量生成舉例 023
2.3 多固定故障 024
2.4 故障淹沒 024
習(xí)題 025
第3章 測試向量生成 027
3.1 自動(dòng)測試向量生成 027
3.1.1 布爾差分法 028
3.1.2 路徑敏化法 030
3.2 隨機(jī)測試向量生成 036
3.2.1 純隨機(jī)測試向量生成 036
3.2.2 偽隨機(jī)測試向量生成 037
3.3 模擬 042
3.3.1 驗(yàn)證、模擬與仿真 042
3.3.2 邏輯模擬 044
3.3.3 故障模擬 045
3.4 實(shí)例 050
3.4.1 自動(dòng)測試向量生成EDA工具 050
3.4.2 自動(dòng)測試向量生成實(shí)例 052
3.4.3 邏輯模擬與故障模擬實(shí)例 068
3.4.4 偽隨機(jī)測試向量生成電路實(shí)例 073
3.4.5 TetraMAX工具腳本 075
習(xí)題 075
第4章 可測性設(shè)計(jì)與掃描測試 078
4.1 可測性設(shè)計(jì)分析 078
4.1.1 可測性分析 078
4.1.2 電路測試問題 079
4.2 掃描測試設(shè)計(jì) 083
4.3 全掃描設(shè)計(jì) 088
4.3.1 掃描路徑測試 088
4.3.2 掃描測試計(jì)算 089
4.3.3 掃描測試舉例 091
4.4 基于EDA工具的掃描設(shè)計(jì) 092
4.5 實(shí)例 094
4.5.1 掃描鏈插入EDA工具 094
4.5.2 掃描鏈插入實(shí)例 095
4.5.3 DFT Compiler工具腳本 101
習(xí)題 102
第5章 邊界掃描測試 104
5.1 邊界掃描基礎(chǔ) 104
5.2 邊界掃描結(jié)構(gòu) 105
5.2.1 測試訪問端口 108
5.2.2 數(shù)據(jù)寄存器 109
5.2.3 指令寄存器 112
5.2.4 指令 113
5.2.5 TAP控制器及操作 116
5.2.6 邊界掃描鏈結(jié)構(gòu) 122
5.3 邊界掃描描述語言 123
5.4 實(shí)例 132
5.4.1 TAP控制器的硬件描述 132
5.4.2 累加器的邊界掃描描述 135
習(xí)題 138
第6章 內(nèi)建自測試 139
6.1 內(nèi)建自測試概念 139
6.1.1 內(nèi)建自測試類型 142
6.1.2 內(nèi)建自測試向量生成 143
6.2 響應(yīng)數(shù)據(jù)分析 143
6.2.1 數(shù)“1”法 144
6.2.2 跳變計(jì)數(shù)法 144
6.2.3 奇偶校驗(yàn)法 144
6.2.4 簽名分析法 145
6.3 內(nèi)建自測試結(jié)構(gòu) 149
6.3.1 按時(shí)鐘測試BIST系統(tǒng) 149
6.3.2 按掃描測試BIST系統(tǒng) 150
6.3.3 循環(huán)BIST系統(tǒng) 150
6.3.4 內(nèi)建邏輯塊觀察器 150
6.3.5 隨機(jī)測試塊 152
6.4 實(shí)例 153
6.4.1 內(nèi)建自測試電路設(shè)計(jì) 153
6.4.2 多輸入簽名分析電路設(shè)計(jì) 157
習(xí)題 158
第7章 存儲(chǔ)器測試 161
7.1 存儲(chǔ)器結(jié)構(gòu) 161
7.2 存儲(chǔ)器故障模型 163
7.3 存儲(chǔ)器測試算法 165
7.3.1 MSCAN測試算法 166
7.3.2 GALPAT測試算法 166
7.3.3 其他測試算法 167
7.4 存儲(chǔ)器測試方法 173
7.4.1 存儲(chǔ)器直接存取測試 173
7.4.2 存儲(chǔ)器內(nèi)建自測試 173
7.4.3 宏測試 175
7.5 存儲(chǔ)器修復(fù) 176
7.6 實(shí)例 176
習(xí)題 186
參考文獻(xiàn) 190
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