本書為高職院校教材。本教材從軟件工程基礎(chǔ)入手，介紹了軟件測(cè)試在軟件生命周期中所處的位置及其作用，圍繞黑盒測(cè)試方法、自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)、接口及性能測(cè)試、持續(xù)集成等幾個(gè)方面，講解了軟件測(cè)試所涉及到的技術(shù)要點(diǎn)。本教材采用項(xiàng)目式編寫方法，通過一個(gè)仿電力門戶網(wǎng)站項(xiàng)目貫穿始終，幫助讀者掌握黑盒測(cè)試的幾種常用的分析方法、掌握Selenium框架的基本應(yīng)用技能、掌握接口及性能測(cè)試的主流工具的應(yīng)用、了解持續(xù)集成在軟件測(cè)試中的基本應(yīng)用場(chǎng)景等內(nèi)容，最終目的是幫助讀者掌握軟件測(cè)試崗位所需的基礎(chǔ)知識(shí)和技能。本書可作為高職院校軟件相關(guān)專業(yè)的教材，也可供軟件測(cè)試方面的從業(yè)者參考。