試驗設(shè)計方法是可實現(xiàn)經(jīng)濟地、科學(xué)地安排試驗的一項通用技術(shù)，是當(dāng)代科技和工程技術(shù)人員必須掌握的技術(shù)方法。本書從試驗設(shè)計的理論知識、設(shè)計過程、分析軟件使用等多方面系統(tǒng)地闡述試驗設(shè)計在印制電路制造中的應(yīng)用。本書共6章，第1章介紹正交試驗設(shè)計在印制電路等離子清洗優(yōu)化的應(yīng)用；第2章介紹正交試驗方差分析法在印制電路激光切割優(yōu)化的應(yīng)用；第3章介紹因子設(shè)計在印制電路機械鉆孔優(yōu)化的應(yīng)用；第4章介紹單純型優(yōu)化法在印制電路激光鉆孔優(yōu)化的應(yīng)用；第5章介紹均勻設(shè)計法在印制電路層間壓合優(yōu)化的應(yīng)用；第6章介紹回歸分析法在陶瓷材料制造優(yōu)化的應(yīng)用。本書可作為印制電路專業(yè)方向的師生使用，又可作為科技和工程技術(shù)人員的參考用書。