《現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)》是筆者在多年教學(xué)經(jīng)驗(yàn)的基礎(chǔ)上并參考了國(guó)內(nèi)外同類優(yōu)秀教材及文獻(xiàn)編著而成。內(nèi)容上圍繞材料的結(jié)構(gòu)、化學(xué)組成及微觀形貌的表征，設(shè)置了晶體學(xué)基礎(chǔ)、X射線衍射技術(shù)、透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡及電子探針、紅外光譜和拉曼光譜等幾個(gè)部分，主要介紹了材料測(cè)試的各種技術(shù)方法的基本原理、儀器結(jié)構(gòu)構(gòu)造及應(yīng)用，涵蓋新方法、新技術(shù)和新進(jìn)展，重視理論與實(shí)踐相結(jié)合。形式上設(shè)置導(dǎo)讀、正文、小結(jié)、思考題及練習(xí)題，便于讀者抓住重點(diǎn)、梳理結(jié)構(gòu)、復(fù)習(xí)和鞏固，從而更好的掌握所學(xué)內(nèi)容。