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高管團隊風險偏好對技術(shù)創(chuàng)新失敗企業(yè)再創(chuàng)新影響機理研究

高管團隊風險偏好對技術(shù)創(chuàng)新失敗企業(yè)再創(chuàng)新影響機理研究

定  價:42 元

        

  • 作者:張洋著
  • 出版時間:2024/5/1
  • ISBN:9787548755371
  • 出 版 社:中南大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:F273.1 
  • 頁碼:233頁
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:21cm
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本書從個人和企業(yè)兩個層面選取15個指標,構(gòu)建高管團隊風險偏好綜合測度指標體系,建構(gòu)了高管團隊風險偏好綜合測度模型,分析了高管團隊風險偏好對企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新失敗再創(chuàng)新行為的影響效應(yīng),探討了高管團隊風險偏好對企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新失敗再創(chuàng)新績效的影響效應(yīng),揭示了失敗再創(chuàng)新行為在高管團隊風險偏好與失敗再創(chuàng)新績效間的中介效應(yīng)。
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