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高管團隊風險偏好對技術(shù)創(chuàng)新失敗企業(yè)再創(chuàng)新影響機理研究
本書從個人和企業(yè)兩個層面選取15個指標,構(gòu)建高管團隊風險偏好綜合測度指標體系,建構(gòu)了高管團隊風險偏好綜合測度模型,分析了高管團隊風險偏好對企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新失敗再創(chuàng)新行為的影響效應(yīng),探討了高管團隊風險偏好對企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新失敗再創(chuàng)新績效的影響效應(yīng),揭示了失敗再創(chuàng)新行為在高管團隊風險偏好與失敗再創(chuàng)新績效間的中介效應(yīng)。
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