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Windows內(nèi)核調(diào)試技術

 Windows內(nèi)核調(diào)試技術

定  價:79 元

        

  • 作者:譚文
  • 出版時間:2025/4/1
  • ISBN:9787121500237
  • 出 版 社:電子工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TP316.7 
  • 頁碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:
  • 開本:128開
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本書以為安全系統(tǒng)所開發(fā)的Windows驅動程序為例,由淺入深地介紹了Windows內(nèi)核調(diào)試所需要的環(huán)境、工具、相關知識及技巧。書中列舉了Windows內(nèi)核編程開發(fā)者容易犯的各類錯誤,以及由此導致的不同缺陷的調(diào)試和解決方法。對遠程調(diào)試、面向海量用戶的內(nèi)核驅動程序的質量控制、程序沖突、無文檔編程等內(nèi)核開發(fā)中常遇到的問題,也提供了對應的解決方案。本書適合具有C語言基礎的計算機相關專業(yè)大中專院校學生、軟件行業(yè)Windows相關的底層開發(fā)者、計算機安全行業(yè)的開發(fā)和研究人員閱讀。

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