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測(cè)繪綜合能力——考點(diǎn)剖析與試題解析

 測(cè)繪綜合能力——考點(diǎn)剖析與試題解析

定  價(jià):90 元

        

  • 作者:何宗宜,王樹根,歐陽(yáng)燁 等 編著
  • 出版時(shí)間:2025/4/1
  • ISBN:9787307250055
  • 出 版 社:武漢大學(xué)出版社
  • 中圖法分類: 
  • 頁(yè)碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:
  • 開本:16開
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本書在《測(cè)繪綜合能力--考點(diǎn)剖析與試題解析(2024版)》的基礎(chǔ)上做了內(nèi)容調(diào)整,修訂了部分知識(shí)點(diǎn)?键c(diǎn)剖析部分對(duì)相關(guān)知識(shí)點(diǎn)進(jìn)行了全面系統(tǒng)的介紹和分析,具體包括大地測(cè)量、工程測(cè)量、攝影測(cè)量與遙感、地圖制圖、地理信息工程、測(cè)繪航空攝影、不動(dòng)產(chǎn)測(cè)繪、海洋測(cè)繪、網(wǎng)絡(luò)地理信息服務(wù)、導(dǎo)航電子地圖制作、行政區(qū)域界線測(cè)繪等。每一章都配備了一定數(shù)量的模擬試題,微信掃碼即可在線測(cè)試。試題解析部分對(duì)2018-2024年的注冊(cè)測(cè)繪師資格考試真題進(jìn)行了全面準(zhǔn)確的解答。本書是為準(zhǔn)備參加注冊(cè)測(cè)繪師資格考試的廣大考生精心編寫的應(yīng)試輔導(dǎo)教材,也可作為測(cè)繪地理信息工程相關(guān)專業(yè)的技術(shù)人員、學(xué)生和教師的參考用書。

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