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集成電路測(cè)試技術(shù)

集成電路測(cè)試技術(shù)

定  價(jià):69 元

        

  • 作者:林潔主編
  • 出版時(shí)間:2025/7/1
  • ISBN:9787111783022
  • 出 版 社:機(jī)械工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TN407@v5 
  • 頁(yè)碼:260頁(yè)
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:26cm
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本書基于職業(yè)崗位能力要求,立足新時(shí)代“中國(guó)芯”發(fā)展的戰(zhàn)略需求,精心設(shè)計(jì)了6個(gè)項(xiàng)目,由淺入深、系統(tǒng)全面地介紹集成電路測(cè)試相關(guān)知識(shí)與技能。從集成電路搭建測(cè)試環(huán)境,到數(shù)字芯片和模擬芯片的典型參數(shù)測(cè)試,再到功能測(cè)試和綜合電路測(cè)試,全方位訓(xùn)練學(xué)生的集成電路測(cè)試綜合技能。在每個(gè)項(xiàng)目都引導(dǎo)學(xué)生傳承工匠精神,將個(gè)人理想與民族復(fù)興結(jié)合起來(lái),立志肩負(fù)時(shí)代重任。
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