本書(shū)主要包括晶體學(xué)、X射線(xiàn)衍射、電子光學(xué)與電子顯微學(xué)、掃描電子顯微術(shù)、透射電子顯微術(shù)、多功能掃描探針顯微術(shù)、光譜學(xué)等材料表征基礎(chǔ)，書(shū)中的實(shí)例分析重點(diǎn)引入了近年來(lái)材料表征方法在納米材料微觀組織結(jié)構(gòu)表征和分析方面的最新成果。