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半導(dǎo)體物理實(shí)驗(yàn)
本教材的編寫(xiě)目的是培養(yǎng)學(xué)生掌握正確的科學(xué)實(shí)驗(yàn)方法,提高學(xué)生的觀察分析能力、應(yīng)用創(chuàng)新能力和實(shí)際動(dòng)手能力。全書(shū)共包括實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目18個(gè),其中10個(gè)為半導(dǎo)體物理實(shí)驗(yàn),8個(gè)為半導(dǎo)體器件實(shí)驗(yàn)。實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目是根據(jù)我校半導(dǎo)體物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)改革和建設(shè)的需要,結(jié)合學(xué)生實(shí)際情況而設(shè)置的。作為一門(mén)專業(yè)實(shí)驗(yàn)課程,學(xué)生通過(guò)獨(dú)立完成半導(dǎo)體材料和器件特性測(cè)試與分析,可以鞏固和強(qiáng)化半導(dǎo)體物理與器件理論知識(shí),提升學(xué)生在微電子技術(shù)領(lǐng)域的競(jìng)爭(zhēng)力,培養(yǎng)學(xué)生靈活運(yùn)用理論知識(shí)解決實(shí)際問(wèn)題的能力,鍛煉學(xué)生分析、探討和總結(jié)實(shí)驗(yàn)結(jié)果的能力。
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