電離層監(jiān)測預測與影響抑制技術(shù)已經(jīng)成為衛(wèi)星導航領域至關重要的技術(shù)。本書系統(tǒng)深入地闡述了電離層監(jiān)測預測與影響抑制技術(shù)的概念、基本原理和實現(xiàn)方法。本書共分為6章。第1章概述了電離層的基本概念、電離層異常種類、電離層異常的影響和常見的電離層異常監(jiān)測方法。第2章詳細說明了電離層異常對衛(wèi)星導航信號、導航接收機和導航定位性能的影響，并介紹了對衛(wèi)星導航電離層異常的仿真方法。第3章介紹了電離層異常指數(shù)、電離層異常監(jiān)測使用的接收機種類以及不同的電離層異常監(jiān)測方式。第4章和第5章分別論述了電離層總電子含量和電離層閃爍指數(shù)的預測方法。第6章詳細介紹了電離層異常影響抑制技術(shù)，包括魯棒導航接收機設計、導航觀測量異常處理和導航定位誤差抑制三大方面的內(nèi)容。