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公差配合與技術(shù)測(cè)量實(shí)訓(xùn)

公差配合與技術(shù)測(cè)量實(shí)訓(xùn)

定  價(jià):58 元

        

  • 作者:趙彥軍主編
  • 出版時(shí)間:2025/1/1
  • ISBN:9787311066970
  • 出 版 社:蘭州大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TG801 
  • 頁(yè)碼:214頁(yè)
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:26cm
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本書(shū)主要內(nèi)容包括:線性尺寸的測(cè)量;幾何公差與測(cè)量;表面粗糙度與測(cè)量螺紋公差與測(cè)量;典型零件圖的技術(shù)要求與測(cè)量。具體內(nèi)容包括:用游標(biāo)卡尺測(cè)量工件;用千分尺測(cè)量階梯軸外徑;用百分表測(cè)量偏心距等。
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