本書(shū)聚焦于光學(xué)遙感圖像中的目標(biāo)檢測(cè)技術(shù)，分析圖像中目標(biāo)的特征及其對(duì)應(yīng)的標(biāo)簽問(wèn)題，并歸納出三種常見(jiàn)的標(biāo)簽情況，即標(biāo)簽錯(cuò)誤、標(biāo)簽單一和標(biāo)簽缺失，進(jìn)而引出弱標(biāo)簽的概念，并對(duì)每種標(biāo)簽問(wèn)題的現(xiàn)有解決方案及其局限性進(jìn)行探討�；�于此，書(shū)中進(jìn)一步提出了針對(duì)不同標(biāo)簽問(wèn)題的創(chuàng)新方法，并展示了相關(guān)實(shí)驗(yàn)結(jié)果。此外，部分方法還在嵌入式設(shè)備上得到了驗(yàn)證。