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對地觀測衛(wèi)星激光測高數(shù)據(jù)處理技術規(guī)范

對地觀測衛(wèi)星激光測高數(shù)據(jù)處理技術規(guī)范

定  價:36 元

        

  • 作者:唐新明等起草
  • 出版時間:2025/1/1
  • ISBN:9787503045356
  • 出 版 社:測繪出版社
  • 中圖法分類:T-652.2 
  • 頁碼:20頁
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:30cm
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本文件規(guī)定了對地觀測衛(wèi)星激光測高數(shù)據(jù)處理的總體要求、處理過程、質量控制和結果記錄,以及成果整理和資料歸檔。
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