該書共有八章，分別為密度函數(shù)估計的積分風險的下界、滿足微分不等式的函數(shù)的非參數(shù)估計、漸近極小極大化圖像重建問題、高斯白噪聲中的適應(yīng)估計問題、帶有任意噪聲的隨機近似、非參數(shù)中位數(shù)的偽值和極小化極大濾波算法、遍歷過程經(jīng)驗測度的巨大偏差、漸近最優(yōu)序貫實驗設(shè)計。該書適合高等院校的師生及數(shù)學愛好者參考閱讀。