本書主要聚焦閃存可靠性與糾錯(cuò)碼LDPC。深入闡釋閃存受電荷泄露、磨損均衡等因素影響而出現(xiàn)數(shù)據(jù)出錯(cuò)的原理，全面剖析LDPC碼的糾錯(cuò)機(jī)制，包括編碼、解碼及性能優(yōu)化。本書的特點(diǎn)是將理論和實(shí)踐研究緊密結(jié)合，用大量實(shí)例與圖表，把復(fù)雜知識(shí)簡(jiǎn)單化。