本書全面介紹了芯片測試與安全的基礎(chǔ)理論與核心技術(shù)，包括故障模型、測試矢量生成、可測試性設(shè)計、掃描設(shè)計和內(nèi)建自測試，重點分析故障仿真與診斷方法。本書討論了存儲器測試、時延測試等關(guān)鍵技術(shù)，并結(jié)合全球化供應鏈背景，探討芯片經(jīng)濟學、安全問題及硬件IP保護。本書詳細解析了物理攻擊與防篡改技術(shù)，介紹了側(cè)信道攻擊類型及防御策略，深入講解了物理不可克隆函數(shù)的原理與攻防技術(shù)，以及邏輯鎖定等安全增強技術(shù)的應用。本書還探索了結(jié)合人工智能提升芯片測試效率與安全性的路徑。章后配有習題，以指導讀者深入學習。第10章配有電子設(shè)計自動化測試與安全實驗，為讀者提供動手實踐機會。